CST-50沖擊試樣缺口投影儀產(chǎn)品用途：根據(jù)GB/T229-2007《金屬夏比缺口沖擊試驗方法》中對沖擊試樣缺口檢測要求而設(shè)計開發(fā)的，是用于檢測沖擊試樣缺口制作是否合格的重要設(shè)備。

利用光學(xué)投影的原理將被測的沖擊試樣U型和V型缺口與投影儀上的標(biāo)準(zhǔn)板圖進(jìn)行對比以確定被檢測的沖擊試樣加工是否合格，該設(shè)備操作簡便，檢查對比直觀、效率高，是沖擊試樣加工過程中必備的檢測設(shè)備。

CST-50沖擊試樣缺口投影儀主要技術(shù)指標(biāo)：

產(chǎn)品型號	CST-50
放大倍數(shù)	50×
投影屏尺寸	ф200mm
工作臺位移	縱向±10mm，橫向±10mm，升降±12mm(無刻度)
工作臺轉(zhuǎn)動范圍	0～360о（無刻度）
光源	鹵鎢燈12V/100W
電源	200V/50HZ/150W
外形尺寸	515×224×603mm
重量	約18kg